“有人提醒？”
王显民一愣，点点头：“放心吧，我会的！”
“对了，萧哥，根据我们的确切情报，好像工信部有可能要取消给七纳米芯片的入网许可了，到时候我们的光刻机就没用了！”
“嗯，没关系！”
萧牧之对于徐鹤年的狠辣真正有了认识！
这一次改革，几乎可以说，简直就是对小企业的一次灭绝性质的绞杀！
一旦真的成型，那么很多芯片小厂就得倒闭！
因为他们最多的也就是十五纳米芯片设备，顶多有一两台的七纳米芯片设备！
还都是老旧的设备！
太狠了！
必须想出一个急招灭了他们了！
此时，王显民收到一个消息一愣：“萧哥，有一个消息，就是刚刚得到了情报，徐鹤年准备招标，要求供应商提供半成品的五纳米芯片，价格低的可以中标！”
“半成品？”
萧牧之微微皱眉：“什么意思？”
“芯片半成品，是没有进行刻录的磨具，这是光刻机刻录之前的原材料，这种磨具可以方便刻录！”
王显民解释道：“目前，生产半成品的公司很多，估计要大降价了！”
“等会，你说生产半成品的公司很多？”
萧牧之微微皱眉：“有没有一种办法，能让半成品在检测时候不出问题，但是在刻录之后出问题呢？”
“这个……需要专家来解释了！”
王显民想了想：“我认识一个芯片工程师，在硅谷是非常有实力的，也许他有办法！”
“这个人可靠吗？”
“绝对可靠，他是目前世界第一的Summit超级电脑首席维护工程师的助手，曾经欠我一个人情1”
“马上联络这个人，我要跟他通话！”
萧牧之毫不犹豫道！
几个小时后，在密室的LED屏幕中！
一个带着金丝眼镜的工程师点点头：“你好，我已经知道了您的想法！”
“有没有办法？”
“严格意义上，有！”
工程师解释：“严格意义上，半成品芯片的检测有三种办法，CP、FT、WAT！”
“CP是把坏的Die挑出来，可以减少封装和测试的成本。可以更直接的知道Wafer的良率。FT是把坏的chip挑出来；检验封装的良率。现在对于一般的wafer工艺，很多公司多把CP给省了，因为非常的费钱！”
“而WAT呢，通过电参数来监控各步工艺是否正常和稳定，华夏所有的检测都是省略了CP这个环节的！”
“具体解释一下吧，太专业不用说了！”
萧牧之淡淡道！
“这么说吧，也就是检测需要两步，最终进入全面检测环节，而华夏检测只需要一步，因为CP检测的DIE出现问题的几率微乎其微的！”
工程师找来一张图纸：“百万分之一的几率都不到，所以就算出现也不会造成太大的影响！”
“而且FT是检测不出来的，会默认是良品，最终WAT因为缺乏CP数据支持，也会默认是好的，刻录之后一旦使用就会出现问题！”
“什么问题？”
“花屏，信息缺失，从而造成整片的芯片作废！”
工程师带着极度的自信：“其实只要修改一下触电，就会引起轻微的漏电引起坏道，如果CP检测很容易检测出来，但是如果省略的话，那就是检测不出来的！”
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第01006章淘汰落后[1/2页]